标准集团（香港）有限公司解读高温四探针测试仪的技术特点与适用情况阐述

标准集团(香港)有限公司创立于2003年，总部在中国香港，研发生产销售纺织类、汽车内外饰类、皮革鞋材类、口罩防护服类等材料测试仪器，在上海设有分公司上海泛标纺织品检测技术有限公司，全面负责中国大陆地区的销售和售后服务，上海千实精密机电科技有限公司是其生产厂家，负责测试仪器的加工生产。

公司起步于纺织领域的开发，秉持专业、真诚、热情、高效的服务理念，全面贴近客户需求，获得客户高度认可。一直以来，我们始终坚持提供适用产品，依赖专业高效的服务团队，整合技术和资源优势，为客户解决科研生产中遇到问题提供支持，从而带动国内科研及相关行业水平的提高。通过个性化的售前产品咨询，高效率的售后安装、维护和维修，标准集团正越来越多赢得市场和客户的信赖。

工厂使命：

上海千实致力于创新高质量的测试仪器，我们的任务是藉由团队的合作、细腻的创新、实际的效能与好的服务，将完整的实验室解决方案交给我们的客户及经销伙伴。

公司价值观：

1.客户至上

上海千实在乎您的需求，获得您的信赖是我们永远的目标。专注于实现每个客户的需求，无论是客户定制产品、技术支持或其他相关服务，我们都全心全意完成您的期盼。

2.创新思想

上海千实坚持运用实验室技术，并累积每个使用者及员工的实际经验，不断突破创新，为所有顾客创造好的测试设备产品。

3.技术水平

上海千实拥有好的研发团队、产品管理专家以及杰出的服务人员，我们结合了各项实验经验与多方客户反馈，确保千实提供给您质量的产品及服务。

4.人性化仪器

上海千实提供操作简单、便利的测试仪器，拥有符合用户体验性的贴心设计，如触控面板及小型按键板，让客户方便、轻松的使用与操作。

5.质量政策

上海千实力图满足顾客所期望的标准，达到更高的境界，我们承诺会藉由各项研究及开发不断提升我们的服务质量，同时也接受每个迎面而来的挑战。

高温四探针测试仪广泛用于碳系导电材料、金属系导电材料、金属氧化物系导电材料、结构型高分子导电材料、复合导电材料等材料的电阻率测量。高温四探针测试仪过的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线。

高温四探针测试仪测量系统，该系统可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻，该设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的。

高温四探针测试仪技术指标

测量温度：室温---600°C;

控温精度：±1℃，

显示精度：±0.1℃；

升温斜率：1-5°C/min；

测量精度：0.05%；

电阻率：10-5～105Ω.cm;

电导率：10-5～105s/cm

方块电阻：10-4～106Ω/□；

电阻：10-5～105Ω；

探针间距：2±0.01mm；

探针压力：0~2kg可调；

针间绝缘电阻：≥1000MΩ；

真空腔体漏率标准要小于10-9Pa?m3/s;

样品：直径15~30mm，厚度小于4mm；

设备尺寸：680mmX450mmX400mm

半导体高温四探针测试仪特点：

TVS瞬间抑制防护技术：光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到任何作用。华测独立开发的TVS瞬间抑制防护技术，将起到对控制系统的防护。

多级循环温度采集技术：设备采用PID算法，以及多级循环温度采集以保证温度的有效值。控温和测温采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都是样品实际温度.

双系统互锁技术及隔离屏蔽技术：本设备不仅具备过压、过流保护系统，它独有的双系统互锁机制，当任何元器件出现问题或单系统出现故障时，将瞬间切断电源。采用低通滤波电流检测技术以保证采集电流的有效值，以及电流抗干扰的屏蔽。

SPWM电子升压技术目前进口设备大都采用SPWM电子升压技术，这一技术具有升压速度平稳，精度高。便于维护等优点是调压器无法比拟的。

适用范围：

1、可以测量高温、真空、气氛下薄膜方块电阻和薄层电阻率；

2、软件、触摸屏、高温炉等集成于一体，可以进行可视化操作；

3、可实现纯净气氛条件下的测量；同时保证探针在高温下不氧化；

4、采用labview软件开发，操控性、兼容性好、方便升级；

5、可自动调节样品测试电压，探针和薄膜接触闪络现象；

6、控温和测温采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都是样品实际温度；

7、可配套使用Keithley2400或2600数字多用表。

采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱为一体的专用的高温测试系统，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通以在高温、真空、气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率，可以分析被测样的电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线．

目前主要针对圆片、方块、长条等样品进行测试，可以广泛用于碳系导电材料、金属系导电材料、金属氧化物系导电材料、结构型高分子导电材料、复合导电材料等材料的电阻率测量。过的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线。